EMI屏蔽效能和电磁干扰屏蔽测量
EMI电磁干扰屏蔽测量
电子器件在世界范围内的迅速发展，使电磁干扰（EMI）和射频干扰（RFI）成为人们关注的重要问题。尽管所有的电子设备都会发射电磁能和电能，但如果这种能量无意中与另一个设备发生了相互作用并导致其故障，则认为是干扰。大多数电磁干扰是由1千赫兹到10千兆赫兹之间的频率引起的，这个范围被称为射频干扰波段，包括无线电和音频。常见的干扰源包括无线电、电视、电动机、电器、雷达发射机、静电和闪电。易受干扰的设备，如计算机、微处理器、广播接收器、测量仪器和导航系统，必须经常进行屏蔽，以保护它们免受电磁干扰的影响。
由于电子设备塑料外壳的使用越来越多，电磁干扰屏蔽已成为一个更重要的问题。大多数塑料都是绝缘体，因此电磁波可以自由通过，必须使用导电屏障作为屏蔽来阻挡电磁波。为了提供屏蔽，塑料外壳涂有导电层，或者外壳本身是导电的。涂层方法更为常见，因为它更容易完成，而且对屏蔽外壳的质量依赖性较小。为了衡量屏蔽项目的有效性，可以对屏蔽设备或外壳应用一套特定的测试和测量标准。
EMI电磁干扰屏蔽测量：
衰减是衡量电磁干扰屏蔽效能的主要指标之一。电磁信号在屏蔽前的强度与屏蔽后的强度之差。衰减以分贝（db）为单位，对应于有或无保护介质的场强之比。信号强度或振幅的降低通常与距离成指数关系，而分贝范围则沿对数刻度下降。这意味着50分贝的衰减率表明屏蔽强度是40分贝的10倍。一般来说，10到30分贝的屏蔽范围提供了最低有效屏蔽水平，而低于该范围的任何屏蔽都可以被视为很少或没有屏蔽。60至90分贝之间的屏蔽可能被视为高水平的保护，而90至120分贝是例外。
